XP系列梅特勒十万分之一位工业分析天平

XP系列梅特勒十万分之一位工业分析天平

型号：XP205 XP105DR XP205DR XP204 XP504 XP504DR

标准量程：31g/81g/101g/220g/520g

精度选择：0.1-0.01mg

梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。

革命性的创新设计带来了*的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。

产品特征

适用于实验室、学校、研究院等快速检测

采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求

具有中文界面的TFT彩色触摸屏，实现安全、便捷的天平操作

红外感应器，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等

网格秤盘，获得快速、准确的称量结果

水平控制系统，在天平偏移水平位置时提供警告提示功能

专业级全自动校准技术,温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果

zui小称量值功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)

天平校验功能，自动提示用户使用外部砝码校正天平，确保称量结果始终准确

显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀

标配RS232接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机电脑等外围设备

采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求，手接触的称量操作。

售后保障
上海本熙科技秉承“专注品质聚焦服务”的经营理念提供性能优良质量可靠的产品同时，还将提供系统周到的售后服务，*解除用户的后顾之忧。本公司之产品即购买日起免费保修一年，终身服务。任何时候您只需一个，我们会在zui短的时间迅速为您排除故障，让您买的放心用的安心。

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XP系列梅特勒十万分之一位工业分析天平